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防蓝光贴膜用蓝光添加剂 UG-C10该蓝光吸收剂采用无机纳米材料而成,通过吸收320nm~460nm波段紫外线和蓝光,阻隔紫外光和蓝光的透过。同时透过440nm~780
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2024-06-13 |
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耐高温蓝光吸收剂 UG-C10该蓝光吸收剂采用无机纳米材料而成,通过吸收320nm~460nm波段紫外线和蓝光,阻隔紫外光和蓝光的透过。同时透过440nm~780
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2024-06-13 |
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防蓝光危害之蓝光吸收剂 UG-C10该蓝光吸收剂采用无机纳米材料而成,通过吸收320nm~460nm波段紫外线和蓝光,阻隔紫外光和蓝光的透过。同时透过440nm~780
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2024-06-13 |
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耐高温蓝光吸收剂 UG-C10该蓝光吸收剂采用无机纳米材料而成,通过吸收320nm~460nm波段紫外线和蓝光,阻隔紫外光和蓝光的透过。同时透过440nm~780
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2024-06-13 |
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低辐射玻璃用纳米二氧化锡 UG-S20;UG-S50纯 度:光谱法分析测试杂质含量。晶粒度:X衍射(XRD)线宽化法平均晶粒的测定。颗粒度:GB/T13221纳米粉末粒度分
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2024-06-11 |
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钢和玻璃的磨光剂纳米二氧化锡 UG-S20;UG-S50纯 度:光谱法分析测试杂质含量。晶粒度:X衍射(XRD)线宽化法平均晶粒的测定。颗粒度:GB/T13221纳米粉末粒度分
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2024-06-11 |
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银锡触头材料纳米二氧化锡 UG-S20;UG-S50纯 度:光谱法分析测试杂质含量。晶粒度:X衍射(XRD)线宽化法平均晶粒的测定。颗粒度:GB/T13221纳米粉末粒度分
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2024-06-11 |
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电工及电子元件用纳米二氧化锡 UG-S20;UG-S50纯 度:光谱法分析测试杂质含量。晶粒度:X衍射(XRD)线宽化法平均晶粒的测定。颗粒度:GB/T13221纳米粉末粒度分
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2024-06-11 |